失效分析

失效分析实验室测试能力

一、   电测能力

1) 精密LCR表

测试频率:20Hz-2MHz,4位分辨率显示

基本精度:0.05%

高速测量:5.6ms,201点列表扫描

内置40V直流偏置,能进行漏电流测量

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2) 低电阻测试仪

测量范围:10uΩ-199.9kΩ

基本精度:±0.05%+2字

最高分辨率:10uΩ

测试速度:快速21次/秒,慢速6次/秒

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3) 漏电流测试仪

测量范围:0-30mA,10档

基本精度:电压2%设定值+2个字,电流2%读数+0.5格

测试电压:0-200V,0-650V


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4) 功率器件分析仪

高达3kV/1500A的运行范围,-50至+250℃的全自动快速热测试,自动创建功率器件(半导体和元器件)技术资料,自动记录功能避免数据丢失,

可以在不同工作条件下评测所有的功率器件参数,包括:IV参数(击穿电压和导通电阻)、在高压偏置下的三端电容、栅极电荷和功率损耗。


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5) LCR数字电桥

测试频率:50Hz-100kHz,10个典型电测电平

测试电平:0.1Vrms,0.3Vrms,1.0Vrms三个典型测试电平

输出阻抗:30Ω±5%,100Ω±5%

基本精度:0.1%

高测量速度:50ms

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6) 电解电容漏电流测试仪

大电流(500mA)提高低压大电容充电速度

0.001uA~20.00mA的测量范围,4位数字显示

最大测试电压:800V

基本精度:0.3%

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二、   无损分析能力

1) 体视显微镜

显微镜连续变倍比:6.11

显微镜物镜变倍范围:0.8X~5X

目镜:10X大视场,视度可调

双目观察组:倾角45度,双目距离调节范围52~75mm

工作距离:115mm

升降范围:105mm

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2精密分析天平

精度:320mg±0.1mg

除基础称量、计数称量、下挂称量外,新增密度检测、百分比称量、累计汇总等功能,适用范围更广

选配SCS智能内校系统,确保天平始终精准

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3) 超声波清洗机

频率:35kHz53kHz两档可切换

功率:40~100%,步进1%的连续精细可调

记忆功能:工作参数断电记忆功能

定时:1~199分钟定时范围

水温:槽内水温屏上实时显示

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三、   金相制备能力

1) 切割机

2) 研磨抛光机

3) 金相显微镜

先采用切割、镶嵌、研磨、抛光等方法将样品制成剖面,再利用显微镜观察、分析各个微区的结构和工艺缺陷,测量剖面尺寸等

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