失效分析
失效分析实验室测试能力
一、 电测能力
1) 精密LCR表
测试频率:20Hz-2MHz,4位分辨率显示
基本精度:0.05%
高速测量:5.6ms,201点列表扫描
内置40V直流偏置,能进行漏电流测量
2) 低电阻测试仪
测量范围:10uΩ-199.9kΩ
基本精度:±0.05%+2字
最高分辨率:10uΩ
测试速度:快速21次/秒,慢速6次/秒
3) 漏电流测试仪
测量范围:0-30mA,10档
基本精度:电压2%设定值+2个字,电流2%读数+0.5格
测试电压:0-200V,0-650V
4) 功率器件分析仪
高达3kV/1500A的运行范围,-50至+250℃的全自动快速热测试,自动创建功率器件(半导体和元器件)技术资料,自动记录功能避免数据丢失,
可以在不同工作条件下评测所有的功率器件参数,包括:IV参数(击穿电压和导通电阻)、在高压偏置下的三端电容、栅极电荷和功率损耗。
5) LCR数字电桥
测试频率:50Hz-100kHz,10个典型电测电平
测试电平:0.1Vrms,0.3Vrms,1.0Vrms三个典型测试电平
输出阻抗:30Ω±5%,100Ω±5%
基本精度:0.1%
高测量速度:50ms
6) 电解电容漏电流测试仪
大电流(500mA)提高低压大电容充电速度
0.001uA~20.00mA的测量范围,4位数字显示
最大测试电压:800V
基本精度:0.3%
二、 无损分析能力
1) 体视显微镜
显微镜连续变倍比:6.1:1
显微镜物镜变倍范围:0.8X~5X
目镜:10X大视场,视度可调
双目观察组:倾角45度,双目距离调节范围52~75mm
工作距离:115mm
升降范围:105mm
2) 精密分析天平
精度:320mg±0.1mg
除基础称量、计数称量、下挂称量外,新增密度检测、百分比称量、累计汇总等功能,适用范围更广
选配SCS智能内校系统,确保天平始终精准
3) 超声波清洗机
频率:35kHz和53kHz两档可切换
功率:40~100%,步进1%的连续精细可调
记忆功能:工作参数断电记忆功能
定时:1~199分钟定时范围
水温:槽内水温屏上实时显示
三、 金相制备能力
1) 切割机
2) 研磨抛光机
3) 金相显微镜
先采用切割、镶嵌、研磨、抛光等方法将样品制成剖面,再利用显微镜观察、分析各个微区的结构和工艺缺陷,测量剖面尺寸等